種別 | 論文 |
主題 | セメントペーストの打ち込み高さごとの空隙構造の違い |
副題 | |
筆頭著者 | 胡桃澤清文(東京工業大学) |
連名者1 | 田中享二(東京工業大学) |
連名者2 | |
連名者3 | |
連名者4 | |
連名者5 | |
キーワード | 表層、細孔構造、画像化、打ち込み高さ、ガリウム圧入 |
巻 | 23 |
号 | 2 |
先頭ページ | 781 |
末尾ページ | 786 |
年度 | 2001 |
要旨 | セメントペーストの空隙構造は打ち込み方向から表層部、中層部、下層部によって大きく違うことが予想される。一般的に表層部の構造は粗いといわれているがどのような構造の差であるかをガリウム圧入法で測定、EPMA測定により画像化しさらに定量的評価を行った。その結果、表層部では大きくその構造は他の部位とは異なり粗い構造であることが明らかになった。またその表層部の構造を材齢7日と28日を比較したとき、材齢28日経過した後でもそれほど改善されないことが画像から明らかとなった。 |
PDFファイル名 | 023-01-2131.pdf |