| 種別 | 論文 |
| 主題 | パッシブロックイン赤外線サーモグラフィ法の開発とこれによる内部欠陥検出精度の向上 |
| 副題 | |
| 筆頭著者 | 佐藤大輔（コンステック） |
| 連名者1 | 阪上隆英（大阪大学） |
| 連名者2 | 込山貴仁（コンステック） |
| 連名者3 | 久保司郎（大阪大学） |
| 連名者4 | |
| 連名者5〜 | |
| キーワード | 赤外線サーモグラフィ、ロックイン、パッシブ法、剥離、浮き、Infrared thermography、Lock-in、Passive、delaminate |
| 巻 | 29 |
| 号 | 2 |
| 先頭ページ | 667 |
| 末尾ページ | 672 |
| 年度 | 2007vol.29 |
| 要旨 | 赤外線サーモグラフィ法は，コンクリートの表層剥離やタイルの浮きなどを検出するための，有効な手法であるとされている。しかしながら，パッシブ状態における測定では，対象物の立地条件や測定時の気象条件によっては，検出可能な表面温度差が得られず，欠陥の検出が困難となる場合がある。本研究では，パッシブ状態での表面温度変動を連続で記録し，これをロックイン解析することにより，温度分布画像から表面温度変動を示す分布画像を生成し，剥離欠陥を精度良く同定する手法を提案する。 |
| PDFファイル名 | 029-01-2112.pdf |