| 種別 | 論文 |
| 主題 | かぶりコンクリートがマクロセル腐食を生じている鉄筋の電気化学測定結果に与える影響の定量的把握 |
| 副題 | |
| 筆頭著者 | 中川智統（東京理科大学） |
| 連名者1 | 加藤佳孝（東京理科大学） |
| 連名者2 | 江口康平（東京理科大学） |
| 連名者3 | 染谷望（港湾空港技術研究所） |
| 連名者4 | |
| 連名者5 | |
| キーワード | half cell potential、macrocell corrosion、salt bridge、solution test、マクロセル腐食、溶液試験、自然電位、塩橋 |
| 巻 | 40 |
| 号 | 1 |
| 先頭ページ | 951 |
| 末尾ページ | 956 |
| 年度 | 2018 |
| 要旨 | 本研究では，塩橋を用いてマクロセル腐食を模擬できる溶液試験を考案した。溶液試験の妥当性を検討した後，かぶりコンクリートが電気化学測定結果に与える影響や，腐食部・非腐食部間コンクリートがマクロセル腐食に与える影響を検討した。その結果，かぶりコンクリートによって，腐食部では19〜22mV，非腐食部では30〜36mVの電位差を生じ，塩化物イオンを含む場合，かぶりコンクリートが自然電位に与える影響が小さくなることが示された。また，腐食部・非腐食部間の塩橋よって生じる電位差の影響の1つとして，陽イオンと陰イオンの移動度の差が小さい方が，電位差が小さくなることが分かった。 |
| PDFファイル名 | 040-01-1153.pdf |