| 種別 | 論文 |
| 主題 | 直流電流がつくる磁束密度によるPC構造物における緊張材の健全性評価の実験的研究 |
| 副題 | |
| 筆頭著者 | 宮澤真（中央大学） |
| 連名者1 | 大下英吉（中央大学） |
| 連名者2 | |
| 連名者3 | |
| 連名者4 | |
| 連名者5 | |
| キーワード | PC構造物、非破壊検査、断面欠損、磁束密度、直流電流 |
| 巻 | 47 |
| 号 | 1 |
| 先頭ページ | 1650 |
| 末尾ページ | 1655 |
| 年度 | 2025 |
| 要旨 | 著者らは緊張材に直流電流を流した時につくられる磁束密度を計測することにより緊張材の断面欠損を評価するシステムの開発に着手している．緊張材のような導線に直流電流を流すと，磁場はビオ・サバールの法則「dH=I*dl*sinθ/(4π*R^2) 」により電流の距離および方向によって決まる．断面欠損が存在する場合その周囲で電流の流れが変化し，それに伴い磁場および磁束密度にも変化が生じる．そこで，健全な状態と断面欠損を有する場合の磁束密度の差から緊張材の健全性評価を可能にするとともに本システムの適用性を検討した． |
| PDFファイル名 | 047-01-1272.pdf |